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FEI電鏡/FEI FIB/FEI SEM/FEI 聚焦離子束/FEI 掃描電鏡/美國FEI掃描電鏡/賽默飛聚焦離子束/掃描電鏡雙束系統/電鏡型號：Strata 400/Helios NanoLab 400/400S/450S/600i。
FIB加工/電路修改/FIB切線/FIB連線/鋁線路互連/銅線路互連/金線路互連/FIB200/FIB800/FEI DB235。以及pcb設計，電路設計宇航級，電路設計工業級，芯片設計，電子元件，電源，金屬件設計加工，非標真空件設計加工。
FEI/賽默飛部分原廠配件耗材供應 離子源4035 273 12631 拔出極4035 273 6 7441 光闌4035 272 35991 抑制極4035 272 35971 拔出極1058129 拔出極1301684 Suppressor 抑制極1096659 Aperture 光闌1346158 PT EE IEE
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